S
E
P
T
Künstler: Li T'ang Langtitel: Die Rückkehr des Markgrafen Wen von Chin Entstehungsjahr: 2. Hälfte 11. Jh. Maße: 44,5 cm hoch Technik: Tusche auf Seide Aufbewahrungsort: New ...
Künstler: Shou-p'ing, Tün Entstehungsjahr: 163390 Maße: 18,6 × 58 cm Technik: Farbe auf Papier Aufbewahrungsort: Winterhur Sammlung: Sammlung Frau G. Hasler Land: ...
Fotograf: Witcomb, Alejandro S. Entstehungsjahr: um 1880 Maße: 228 x 285 mm Technik: Albuminabzug Aufbewahrungsort: Buenos Aires Sammlung: A. Lires Giraldes Land: Argentinien Kommentar ...
Fotograf: Southworth & Hawes Entstehungsjahr: um 1855 Technik: Daguerreotypie Aufbewahrungsort: Marblehead (Massachusetts) Sammlung: Sammlung Richard Parker Land: USA Kommentar: Landschaft
Fotograf: Cameron, Julia Margaret Entstehungsjahr: 1865 Maße: 367 x 285 mm Aufbewahrungsort: Oxford Sammlung: Ashmolean Museum Land: England Kommentar: Porträt
Künstler: Gillray, James Entstehungsjahr: 1788 Technik: Radierung und Aquatinta, koloriert Epoche: Karikatur Land: England Kommentar: Abdruck in: C. Morgan, London, 1788
Fotograf: O'Sullivan, Timothy H. Entstehungsjahr: 1863 Land: USA Kommentar: Porträt
Fotograf: Parshley, E.E. Entstehungsjahr: um 1895 Land: USA Kommentar: Architektur
S. M. S. 'Mecklenburg'. Verlag: J. Margoniner & Co., Wilhelmshaven.
S. M. S. 'Wittelsbach'. Verlag: Hermann Edlefsen, Kiel.
Künstler: Canaletto (I) Entstehungsjahr: um 1732 Maße: 46,5 × 77,5 cm Technik: Öl auf Leinwand Aufbewahrungsort: New York Sammlung: Privatsammlung Epoche: Barock Land: ...
Künstler: Larsson, Carl Entstehungsjahr: 1912 Technik: Aquarell Sammlung: Privatbesitz Land: Schweden
Künstler: Meister F S Entstehungsjahr: 1585 Maße: 15,5 × 12,5 cm Technik: Holzschnitt Aufbewahrungsort: Berlin Sammlung: Kupferstichkabinett Epoche: Renaissance Land: Deutschland
Fotograf: Desplanques, E. Maße: 448 x 343 mm Land: Frankreich Kommentar: Architektur
Künstler: Rowlandson, Thomas Entstehungsjahr: um 1810 Technik: Zeichnung Epoche: Karikatur Land: England
Fotograf: Johnston, John S. Entstehungsjahr: 1894 Land: USA Kommentar: Architektur